Verification of Fuse-Semiconductor Commutation Based on Online Estimation of Fuse Current-Limiting Status

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-029

グループ名: 【全国大会】令和6年電気学会全国大会論文集

発行日: 2024/03/01

タイトル(英語): Verification of Fuse-Semiconductor Commutation Based on Online Estimation of Fuse Current-Limiting Status

著者名: LIUYECHENG（東京大学）,佐々木怜音（東京大学）,大西亘（東京大学）,古関隆章（東京大学）,全俊豪（東京工業大学）,山納康（埼玉大学）,稲田優貴（埼玉大学）

著者名(英語): Yecheng Liu (The University of Tokyo),Reon Sasaki (The University of Tokyo),Wataru Ohnishi (The University of Tokyo),Takafumi Koseki (The University of Tokyo),Shungo Zen (Tokyo Institute of Technology),Yasuhi Yamano (Saitama University),Yuki Inada (Saitam

キーワード: |Fuse Model|Active Fuse|Fuse|Recursive Least Squares Filter|DC Circuit Breaker

要約(英語): Fuses offer high overcurrent limiting capability and low conduction losses, but also face DC disconnection challenges in high-voltage environments, as well as limitations associated with single-use applications. To address these shortcomings, especially i

本誌掲載ページ: 36-38 p

原稿種別: 英語

PDFファイルサイズ: 276 Kバイト