低電圧DC限流遮断プロセスにおけるアーク抵抗増加の出現域と高分子材配置による早期化
低電圧DC限流遮断プロセスにおけるアーク抵抗増加の出現域と高分子材配置による早期化
カテゴリ: 全国大会
論文No: 6-040
グループ名: 【全国大会】令和6年電気学会全国大会論文集
発行日: 2024/03/01
タイトル(英語): Increase emergence domain of arc resistance during low voltage DC interruption and its forwardness due to polymer plate arrangement
著者名: 清水翔太(名古屋大学),横水康伸(名古屋大学),兒玉直人(名古屋大学),岩田幹正(名古屋大学),内山隼輔(名古屋大学),酒井智康(日東工業),塚原正浩(日東工業),宮本淳史(日東工業)
著者名(英語): Shota Shimizu (Nagoya University),Yasunobu Yokomizu (Nagoya University),Naoto Kodama (Nagoya University),Mikimasa Iwata (Nagoya University),Shunsuke Uchiyama (Nagoya University),Tomoyasu Sakai (Nitto Kogyo),Masahiro Tsukahara (Nitto Kogyo),Atsushi Miyamot
キーワード: 直流限流遮断|アーク抵抗|高分子材|配線用遮断器|DC interruption|arc resistance|polymer|molded case circuit breaker
要約(日本語): 低電圧直流給配電システムの利用は,インターネットデータセンタなどの需要家において広がっている。低電圧直流給配電システムでは,配線用遮断器が設置され,アーク電圧の上昇によって DC を限流し続け,ひいては DC を遮断することが求められる。筆者らは,実験用アーク弧装置を用いた DC 限流遮断実験を行い,アーク電圧の上昇要因を分析するとともに,アーク消弧時間の短縮を検討している。本報告では,高分子材配置下における DC 限流遮断プロセスにおけるアーク抵抗の時間変化と電極間距離の伸長とからアーク電圧の上昇過程を考察するとともに,DC アーク消弧時間を述べている。
本誌掲載ページ: 49-50 p
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 331 Kバイト
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