多数回開閉試験における接点消耗推定手法の実機電磁接触器への適用

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-045

グループ名: 【全国大会】令和6年電気学会全国大会論文集

発行日: 2024/03/01

タイトル(英語): Application of contact erosion estimation method to actual contactor

著者名: 堀田克輝（三菱電機）,佐藤統隆（三菱電機）,増本泰知（三菱電機）,小林弘樹（三菱電機）,稲口隆（三菱電機）

著者名(英語): Katsuki Hotta (Advanced technology R&D center),Noritaka Sato (Fukuyama works),Taichi Masumoto (Fukuyama works),Hiroki Kobayashi (Fukuyama works),Takashi Inaguchi (Advanced technology R&D center)

キーワード: 接点|消耗|低圧|開閉器|接触器|contact|erosion|low-voltage|switch|contactor

要約(日本語): 低圧開閉器は開閉時のアークにより接点が消耗する。累積接点消耗量は開閉器寿命を決める重要な要素であるが，多数回開閉時の接点消耗現象は十分明らかになっていない。筆者らはこれまで多数回開閉における接点消耗現象を明らかにし，累積接点消耗量を計算する手法を開発してきた。今回は開発した手法を定格電流125Aクラスの実機電磁接触器に適用し，多数回開閉による接点消耗推移の予測結果と試験結果とを比較した。その結果，多数回開閉における接点の消耗により接点の過剰押し込み量は減少し，開閉毎の接点消耗量が増加するが，この特性を考慮することで実機の電磁接触器において接点消耗推移を予測できることを明らかにした。

本誌掲載ページ: 58-60 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 536 Kバイト