デジタル変電所の実現に向けたマルチベンダIED組み合わせ試験の考察（その1）

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-252

グループ名: 【全国大会】令和6年電気学会全国大会論文集

発行日: 2024/03/01

タイトル(英語): Construction of a Multi-vendor Connection Testing for the Realization of Digital Substations Part 1

著者名: 飯田千哉（東京都市大学）,高山大輝（東京都市大学）,益戸直人（東京都市大学）,天雨徹（東京都市大学）

著者名(英語): Kazuya Iida (Tokyo City University),Daiki Takayama (Tokyo City University),Naoto Masudo (Tokyo City University),Toru Amau (Tokyo City University)

キーワード: 国際電気標準会議 61850|高性能電子装置|IEC 61850|IED

要約(日本語): 近年，変電所の保護制御への IEC 61850 に準拠した装置の導入が行われている。IEC 61850 は，変電所の保護制御装置（IED）間の通信プロトコルである。これにより，異ベンダ IED 間の相互運用性の確保やシステムの構築・保守における省力化・システムの拡張性の強化が可能となる。しかしながら実際に異ベンダ装置を接続し試験を実施したという大学研究室での事例はそれほど多くはない。本論文では，デジタル変電所の実現に向け，IEC 61850 に準拠した異ベンダ IED 組み合わせ試験の考察を報告する。

本誌掲載ページ: 446-448 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 677 Kバイト