との粉で汚損したシリコーンゴムのNSDDと表面抵抗率との関係

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-083

グループ名: 【全国大会】令和6年電気学会全国大会論文集

発行日: 2024/03/01

タイトル(英語): Relationship between NSDD and Surface resistivity of Silicone rubber polluted with polishing powder

著者名: 眞淵達也（山形大学）,杉本俊之（山形大学）,増田雅芳（東北電力）,溝江弘樹（東北電力）,丹野透（東北電力ネットワーク）

著者名(英語): Tatsuya Mabuchi (Yamagata University),Toshiyuki Sugimoto (Yamagata University),Masayoshi Masuda (Tohoku Electric Power Co., Inc.),Hiroki Mizoe (Tohoku Electric Power Co., Inc.),Toru Tanno (Tohoku Electric Power Network co., Inc)

キーワード: シリコーンゴム|汚損試験|不溶性物質付着密度|表面抵抗率|silicone rubber|pollution test|non-soluble deposit density|surface resistivity

要約(日本語): ポリマーがいしに用いられるシリコーンゴムの汚損・劣化時の絶縁性能を把握するためには，表面抵抗率を非接触で検出することが望まれる。本研究ではコロナ帯電を用いた表面抵抗率の測定法の較正を行い，との粉で汚損したシリコーンゴムのNSDDと表面抵抗率との関係を調査した。異なる表面処理を施したシリコーンゴムサンプルの表面抵抗率を本測定法と二端子法で評価した結果，本測定法では10¹⁰～10¹⁶[Ω/sq]の範囲における表面抵抗率を非接触で検出することが分かった。また，較正直線からNSDDと表面抵抗率との関係を得られ，NSDDが0.5から2.0[mg/cm²]に増加すると，との粉で汚損したシリコーンゴムの表面抵抗率は10¹⁶から10¹¹[Ω/sq]まで著しく低下した。

本誌掲載ページ: 135-136 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 343 Kバイト