デュアルソースブリッジ型高精度高抵抗測定器のADCの分解能向上による不確かさ低減の評価
デュアルソースブリッジ型高精度高抵抗測定器のADCの分解能向上による不確かさ低減の評価
カテゴリ: 全国大会
論文No: 1-042
グループ名: 【全国大会】令和7年電気学会全国大会論文集
発行日: 2025/03/01
タイトル(英語): Evaluation of measurement uncertainty reduction with the improved resolution of the A/D converter with dual source bridge type high precision high resistance measuring instrument
著者名: 柄澤大樹(長野県工業技術総合センター),染谷貴史(長野県工業技術総合センター),大江武彦(産業技術総合研究所),金子晋久(産業技術総合研究所)
著者名(英語): Daiki Karasawa (Nagano Prefecture General Center),Takashi Someya (Nagano Prefecture General Center),Takehiko Oe (National Institute of Advanced Industrial Science and Technology),Nobu-Hisa Kaneko (National Institute of Advanced Industrial Science and Tech
キーワード: 高抵抗測定|直流電気抵抗器|直流抵抗標準|デュアルソースブリッジ|high resistance measurement|DC electric resistor|DC resistance standard|dual source bridge
要約(日本語): 高抵抗測定技術は高電圧測定や微小電流測定など様々な応用を背景に重要性を増しており,直流高抵抗の高精度測定の手法の一つにデュアルソースブリッジ(DSB: Dual Source Bridge)がある。以前開発したDSB型高精度高抵抗測定器の1 TΩ以上の測定不確かさにおいてA/D変換器の測定分解能に起因する不確かさが支配的であることが示された。そこでA/D変換器の分解能を10 bitから16 bitへ向上させ,拡張不確かさを1 TΩで8 μΩ/Ω,10 TΩで100 μΩ/Ω低減したほか,測定範囲を100
本誌掲載ページ: 52-54 p
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 561 Kバイト
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