各種材料における部分放電劣化による浸食構造
各種材料における部分放電劣化による浸食構造
カテゴリ: 全国大会
論文No: 2-009
グループ名: 【全国大会】令和7年電気学会全国大会論文集
発行日: 2025/03/01
タイトル(英語): Erosion structures due to partial discharge degradation in various materials
著者名: 中村陽央(三重大学),青木裕介(三重大学),小迫雅裕(九州工業大学),匹田政幸(九州工業大学),伊藤大貴(東芝産業機器システム),大山公治(東芝産業機器システム),中前哲夫(東芝産業機器システム),前田照彦(東芝産業機器システム),尾崎多文(東芝産業機器システム)
著者名(英語): Yo Nakamura (Mie university),Yusuke Aoki (Mie university),Masahiro Kozako (Kyushu Institute of Technology),Masayuki Hikita (Kyushu Institute of Technology),Daiki Ito (Toshiba Industrial Products and Systems Co.),Kimiharu Oyama (Toshiba Industrial Products
要約(日本語): 本研究では,樹脂絶縁材料の部分放電(PD)による耐部分放電特性を評価し,ポリエチレンテレフタラート(PET),ポリイミド(PI),エポキシ樹脂(EP)の浸食構造の違いを比較した。模擬ボイド試料を用いて,PDエネルギーと浸食深さの関係を測定し,表面構造をSEMで観察した。結果,単位エネルギーあたりの浸食量はEP>PET>PIの順で大きく,浸食部の表面構造はEPは滑らかな表面,PETやPIは凹凸構造を形成した。これらの違いは,材料の結晶性や非晶質性によるPD浸食進行の特性に起因すると考えられる。
本誌掲載ページ: 9-10 p
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 325 Kバイト
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