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部分放電による放電活動変化の把握に基づく絶縁寿命予測

部分放電による放電活動変化の把握に基づく絶縁寿命予測

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-010

グループ名: 【全国大会】令和7年電気学会全国大会論文集

発行日: 2025/03/01

タイトル(英語): Prediction of insulation life based on understanding of changes in discharge activity due to partial discharge

著者名: 竹内健(三重大学),青木祐介(三重大学),小迫雅裕(九州工業大学),匹田政幸(九州工業大学),伊藤大貴(東芝産業機器システム),大山公治(東芝産業機器システム),中前哲夫(東芝産業機器システム),前田照彦(東芝産業機器システム),尾崎多文(東芝産業機器システム)

著者名(英語): Ken Takeuchi (Mie University),Yusuke Aoki (Mie University),Masahiro Kozako (Kyushu Institute of Technology),Masayuki Hikita (Kyushu Institute of Technology),Daiki Ito (Toshiba Industrial Products and Systems Co),Kimiharu Oyama (Toshiba Industrial Products

キーワード: 部分放電|暴露|浸食|Patial Discharge|Exposure|Erosion

要約(日本語): 高電圧機器などの絶縁体中のボイド,クラックなどで発生する部分放電(PD)によって樹脂材料の劣化が進行し絶縁破壊に至ることが知られる。我々はこれまで樹脂材料としてPETを対象として,欠陥構造を模擬した樹脂モールド球電極/PET/空間/PET/透明電極系を用いて位相分解部分放電パターン(PRPDP)と実際の放電発光画像の観察によるPD活動と樹脂表面構造との関係性を調査してきた。今回はさらなる長時間試験を行い,樹脂表面構造成長の調査をした。放電による浸食が成長し,浸食深さが樹脂厚さに至ったとき全路破壊に至ると定

本誌掲載ページ: 10-11 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 402 Kバイト

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