電流積分法は何を測るか（その2）

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-018

グループ名: 【全国大会】令和7年電気学会全国大会論文集

発行日: 2025/03/01

タイトル(英語): What Does the Current Integration Method Measure? (II)

著者名: 大木義路（早稲田大学）,平井直志（早稲田大学）,ThangabalanBaskarasethuptathi（東京都市大学）,田中康寛（東京都市大学）

著者名(英語): Yoshimichi Ohki (Waseda University),Naoshi Hirai (Waseda University),Baskarasethuptathi Thangabalan (Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka (Tokyo City University)

キーワード: 高分子絶縁ケーブル|伝導電流|電流計測|絶縁劣化　|電荷注入|体積抵抗率|polymer-insulated cable|conduction current|current measurement|insulation degradation|charge injection|volume resistivity

要約(日本語): 前報に，「電圧印加中には電流積分法により空間電荷の蓄積を計測できないが，電圧印加下での測定が終了し回路を短絡した時点以後の電荷量Q(t)がゼロに戻るときの経時変化を解析することにより，試料内に蓄積された空間電荷の減衰挙動を推定することはできる。」と書いた。その詳細を既に研究会資料の形では報告しているが，電流積分法の汎用性を広く紹介するために，新しい記述を加えた上で，その骨子を再び述べる。

本誌掲載ページ: 18-20 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 838 Kバイト