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センサアレイを用いた磁気粒子イメージングにおける正則化手法の検討

センサアレイを用いた磁気粒子イメージングにおける正則化手法の検討

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-068

グループ名: 【全国大会】令和7年電気学会全国大会論文集

発行日: 2025/03/01

タイトル(英語): Regularization Techniques in Magnetic Particle Imaging with Sensor Array

著者名: 松下智紀(九州大学),吉田敬(九州大学),笹山瑛由(九州大学)

著者名(英語): Tomoki Matsushita (information science and electrical engineering),Takashi Yoshida (information science and electrical engineering),Teruyoshi Sasayama (information science and electrical engineering)

キーワード: 磁気粒子イメージング|スパース正則化|磁気センサアレイ|逆問題解析|磁性ナノ粒子|最小二乗法|Magnetic particle imaging|Sparse regularization|Magnetic sensor array|Inverse problem analysis|Magnetic nanoparticle|Least squares methods

要約(日本語): 近年,高分解能かつ非侵襲的な画像診断技術として,磁気粒子イメージング(Magnetic Particle Imaging : MPI)が注目を集めている。そのイメージング方法の一つに,傾斜磁界を用いず磁気センサアレイにより位置推定を行う手法が提案されている。この手法により点状の磁性ナノ粒子サンプルの位置推定に成功しているが,実用的な観点では,連続的に分布した磁性ナノ粒子サンプルの位置推定ができることが望ましい。そこで本稿では,MPIの特性を考慮し,スパース正則化を用いてU字型サンプルの位置推定を行った。再

本誌掲載ページ: 73-75 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 637 Kバイト

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