パワエレ制御最適化のシミュレーション総実行時間を削減する試験条件選択手法

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-013

グループ名: 【全国大会】令和7年電気学会全国大会論文集

発行日: 2025/03/01

タイトル(英語): Test Conditions Selection Method to Reduce Total Simulation Run Time in Optimizing Power Electronics Control

著者名: 澁沢慎吾（パナソニック インダストリー）,岡本芽生（パナソニック インダストリー）,青木祐二（パナソニック インダストリー）

著者名(英語): Shingo Shibusawa (Panasonic Industry),Mei Okamoto (Panasonic Industry),Yuji Aoki (Panasonic Industry)

キーワード: DC-DCコンバータ|PID制御|ロバスト最適化|ブラックボックス最適化|DC-DC Converter|PID Controller|Robust Optimization|Blackbox Optimization

要約(日本語): パワエレ制御開発においてシミュレーションモデルを用いた制御パラメータのブラックボックス最適化を単純に適用すると，数十通りの試験条件すべてで目標性能を満たすまでに数日以上のシミュレーション実行時間を要する。実行する試験条件を選択する手法としてAdaptive Scenario Subset Selection(AS3)が提案されているが，過渡応答試験より実行時間が長くなる定常応答試験のような試験条件を高頻度に繰り返してしまう可能性もある。本研究では，試験条件ごとの実行時間の違いに着目し，相対的に長い試験条件

本誌掲載ページ: 24-25 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 433 Kバイト