パワーサイクル試験における定電流化を目的とした電流調節回路

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-094

グループ名: 【全国大会】令和7年電気学会全国大会論文集

発行日: 2025/03/01

タイトル(英語): Current Regulation Circuit for Power Cycling Test

著者名: 出本悦也（千葉工業大学）,佐々木凛太郎（千葉工業大学）,林真一郎（千葉工業大学）,和田圭二（東京都立大学）

著者名(英語): Etsuya Idemoto (Chiba Institute of Technology),Rintaro Sasaki (Chiba Institute of Technology),Shin-Ichiro Hayashi (Chiba Institute of Technology),Keiji Wada (Tokyo Metropolitan University)

キーワード: 加速劣化試験|長期信頼性|ゲート駆動回路|パワー半導体デバイス|accelerated aging test|long-term reliability|gate drive circuit|power semiconductor devices

要約(日本語): 本研究で提案する一定電流を流すパワーサイクル試験の並列化において，DUTに同一電流を流し続けるための電流調節回路を開発した。回路の構成として，電流センサにより試験電流のセンシングを行い，MOSFETのゲート電圧を可変することで流れる電流の制御を行う。回路内のMOSFETを選定するために，オン抵抗のゲート電圧依存性をシミュレーションにより検証した。その結果，オン抵抗の調節にはSiC MOSFETが適していることを明らかとした。開発した回路で動作検証を行い，ゲート電圧の指令値を変化させることで，オン抵抗を変化

本誌掲載ページ: 151-152 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 699 Kバイト