ミリ波円筒空洞共振器を用いた高周波誘電体基板の複素誘電率の周波数依存性測定

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EDD23081

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス研究会

発行日: 2023/12/05

タイトル(英語): Frequency dependence measurement of complex permittivity for high-frequency dielectric substrates using millimeter wave circular empty cavities

著者名: 坂田 凌(宇都宮大学),清水 隆志(宇都宮大学)

著者名(英語): Ryo Sakata(Utsunomiya University),takashi Shimizu(Utsunomiya University)

キーワード: 円筒空洞共振器法|誘電体材料|複素誘電率|周波数依存性|ミリ波|Circular empty cavity method|Dielectric material|Complex permittivity|Frequency dependence|Millimeter wave

要約(日本語): 近年、Beyond 5G/6Gといった移動通信技術の開発に伴い、ミリ波帯における回路設計の需要が高まっている。回路設計において、設計周波数帯における誘電体基板材料の複素誘電率を正確に把握することが重要である。本報告では、複数のミリ波材料評価用円筒空洞共振器を用いて、13種類の市販高周波回路用誘電体基板の複素誘電率測定を行った。測定限界を超える誘電損失をもつ基板を除いた11種の30-100GHz帯における周波数依存性を明らかにした。

要約(英語): Beyond 5G / 6G circuit developer require accurate dielectric constant in the operating frequency band. In this report, we evaluated 13 kinds of dielectric substrate for high-frequency applications using several millimeter wave circular empty cavities. As a result, we reveal frequency dependence of complex permittivity for 11 kinds dielectric substrate except one with high dielectric loss.

本誌: 2023年12月8日電子デバイス研究会

本誌掲載ページ: 25-28 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 465 Kバイト