オンチップ遅延時間測定によるプロセスばらつき推定手法の検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT23069

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2023/12/05

タイトル(英語): Study on Estimation method of Process variation by using On-Chip delay time measurement

著者名: 宮内 亮一(東京理科大学),梅本 翔多郎(東京理科大学),福地 裕(東京理科大学),兵庫 明(東京理科大学)

著者名(英語): Ryoichi Miyauchi(Tokyo University of Science),Shotaro Umemoto(Tokyo University of Science),Yutaka Fukuchi(Tokyo University of Science),Akira Hyogo(Tokyo University of Science)

キーワード: 演算増幅器|プロセスばらつき|プロセスコーナー|ばらつき補正|Operational Amplifier|Process Variation|Process Corner|Correction Technique

要約(日本語): 本論文では，一般的な二段構成の演算増幅器におけるプロセスばらつきを推定する手法について述べている．集積回路において，ばらつきを補正するためには実チップでのばらつきの影響を測定することが不可欠である．そこで本稿では，プロセスばらつきに着目し，そのオンチップにてばらつきを推定する仕組みとして，演算増幅器における入出力間の遅延時間を用いて推定する手法について提案する．

要約(英語): This paper describes the estimation method of process variation for operational amplifier using on-chip delay time measurement. The proposed estimation method uses delay time which is difference between input and output signal of an operational amplifier, and the proposed method can consist only digital circuits.

本誌: 2023年12月8日電子回路研究会

本誌掲載ページ: 37-40 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,100 Kバイト