計測環境が二次電子放出係数に与える影響

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: DEI24003,EPP24003,HV24003

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 誘電・絶縁材料/【A】基礎・材料・共通部門 放電・プラズマ・パルスパワー/【B】電力・エネルギー部門 高電圧合同研究会

発行日: 2024/01/16

タイトル(英語): Effect of Measurement Environment on Secondary Electron Emission Yield

著者名: 劔持 祥星(東京都市大学),三宅 弘晃(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学)

著者名(英語): Sachiho Kemmotsu(Tokyo city university),Hiroaki Miyake(Tokyo city university),Yasuhiroq Tanaka(Tokyo city university)

キーワード: 二次電子|電子線|大気曝露|宇宙機|Secondary electron emission|electron beam|atmospheric exposure |spacecraft

要約(日本語): 宇宙機に高エネルギー荷電粒子が照射されると二次電子放出が発生する為、帯電状況を把握する為には二次電子放出計測が重要である。しかし二次電子放出特性は運用前後で変化する可能がある。そのため電子線照射した試料の帯電特性の評価を行っているが照射後大気曝露すると変化してしまう。本稿では宇宙環境での長期運用を模擬した電子線を照射した試料の大気暴露の有無による二次電子放出特性の変化について報告していく。

要約(英語): Secondary electron emission (SEE) measurement is important to understand the charging status of spacecraft but SEE characteristics may change before and after operation. Therefore, we have been evaluating the characteristics of electron-beam irradiated samples, but they change when exposed to the atmosphere after irradiation. Therefore, this paper reports on the changes in SEE characteristics of electron-beam irradiated samples depending on whether they are exposed to the atmosphere or not.

本誌: 2024年1月19日-2024年1月20日誘電・絶縁材料/放電・プラズマ・パルスパワー/高電圧合同研究会-1

本誌掲載ページ: 13-17 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,159 Kバイト