TE10pモードを利用した分割方形導波管共振器による20-130GHzにおける複素誘電率測定の検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: EDD24081

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子デバイス研究会

発行日: 2024/12/10

タイトル(英語): Investigation of complex permittivity measurements from 20 to 130 GHz using a split-rectangular waveguide resonator with TE10p modes

著者名: 平山 直樹(京セラ),中山 明(無所属),吉川 博道(京セラ),清水 隆志(宇都宮大学)

著者名(英語): Naoki Hirayama(Kyocera Corporation),Akira Nakayama(unaffiliated),Hiromichi Yoshikawa(Kyocera Corporation),Takashi Shimizu(Utsunomiya University)

キーワード: 複素誘電率|測定方法|共振器|マイクロ波|ミリ波|有機基板|Complex permittivity|measurement method|resonator|microwave|millimeter wave|organic substrate

要約(日本語): これまでに、我々は誘電体基板の広帯域な複素誘電率測定法として、測定基板をTE10p共振モードの電界と平行に挿入した分割形の方形導波菅共振器を用いた方法について検討し、20-60GHzの測定結果を報告した。本研究では、さらに詳細な検討を加え、測定周波数範囲を20-130GHzへ拡張した。サファイア板、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)シート、液晶ポリマー(LCP)シートの3種類の測定試料について20-130GHzにおけるεrtとtanδtの周波数依存性を測定し、本手法の有効性を確認した。

要約(英語): A measurement method for the complex permittivity of dielectric substrates over a wide band from microwave to millimeter wave was investigated, using a split-rectangular waveguide resonator. The frequency dependence of the complex permittivity from 20 to 130 GHz was evaluated to demonstrate the effectiveness of this method.

本誌: 2024年12月13日電子デバイス研究会

本誌掲載ページ: 25-30 p

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 785 Kバイト