商品情報にスキップ
1 1

高周波水晶振動子の特性測定のための基板構成

高周波水晶振動子の特性測定のための基板構成

通常価格 ¥550 JPY
通常価格 セール価格 ¥550 JPY
セール 売り切れ
税込

カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門

発行日: 2011/07/01

タイトル(英語): Substrate Configuration for Measurement to Evaluate High Frequency Crystal Resonator's Characteristics

著者名: 飯島 裕基(日本大学理工学部電子情報工学科),田村 邦彦(日本大学理工学部電子情報工学科),今池 健(日本大学理工学部電子情報工学科),作田 幸憲(日本大学理工学部電子情報工学科),関根 好文(日本大学理工学部電子情報工学科)

著者名(英語): Hiroki Iijima (College of Science & Technology, Nihon University), Kunihiko Tamura (College of Science & Technology, Nihon University), Takeshi Imaike (College of Science & Technology, Nihon University), Yukinori Sakuta (College of Science & Technology, Nihon University), Yoshifumi Sekine (College of Science & Technology, Nihon University)

キーワード: 周波数特性,ネットワークアナライザ,マイクロストリップライン,共振特性  frequency characteristics,network analyzer,micro-strip line,resonant characteristics

要約(英語): The manufacturing technology of the crystal resonators is expanding from HF band to VHF, UHF band. According to this trend, measurement methods to evaluate intrinsic nature of crystal resonators are required. In this paper, we examine about a circuit using the micro-strip line as reference plane, and discuss a precise expression to characterize the nature of the circuit.

本誌: 電気学会論文誌A(基礎・材料・共通部門誌) Vol.131 No.7 (2011) 特集:高周波マイクロ磁気応用技術の最前線

本誌掲載ページ: 587-588 p

原稿種別: 研究開発レター/日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/131/7/131_7_587/_article/-char/ja/

販売タイプ
書籍サイズ
ページ数
詳細を表示する