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有機発光ダイオードの劣化に及ぼす電荷移動度と界面電荷蓄積の影響

有機発光ダイオードの劣化に及ぼす電荷移動度と界面電荷蓄積の影響

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カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門

発行日: 2017/05/01

タイトル(英語): Influence of the Carrier Mobility and Charge Accumulation in Interfacial Layers on Deterioration in Organic Light-emitting Diodes

著者名: 中村 弘史(ソニー(株)R&Dプラットフォーム デバイス&マテリアル研究開発本部/九州大学最先端有機光エレクトロニクス研究センター(OPERA) 九州大学大学院工学研究院応用化学部門),栗林 美樹(ソニー(株)R&Dプラットフォーム デバイス&マテリアル研究開発本部),安達 千波矢(九州大学最先端有機光エレクトロニクス研究センター(OPERA) 九州大学大学院工学研究院応用化学部門)

著者名(英語): Hirofumi Nakamura (Device & Material R&D Group, R&D Platform, Sony Corporation/Center for Organic Photonics and Electronics Research (OPERA) and Department of Applied Chemistry and Biochemistry, Kyushu University), Miki Kuribayashi (Device & Material R&D Group, R&D Platform, Sony Corporation), Chihaya Adachi (Center for Organic Photonics and Electronics Research (OPERA) and Department of Applied Chemistry and Biochemistry, Kyushu University)

キーワード: 電荷移動度,電荷蓄積,劣化,寿命,最大容量,有機発光ダイオード  carrier mobility,charge accumulation,deterioration,lifetime,maximum capacitance,OLED

要約(英語): The influence of the carrier mobility and charge accumulation in interfacial layers on the deterioration of organic light-emitting diodes (OLEDs) was investigated. There was a relationship between the deterioration of the device characteristics and the electron mobility of the emissive layer and the electron transport layer. The samples with lower electron mobilities had less degradation, whereas the samples with higher electron mobilities had more significant degradation. We simultaneously observed a decrease in the maximum capacitance, Cmax, of the OLEDs, implying that there was charge accumulation at the recombination zone in the vicinity of the emitting layer. Our study demonstrates that controlling the electron mobility in the electron transport layer is necessary to protect the device from accumulation or trapping of charges and deterioration of the luminance.

本誌: 電気学会論文誌A(基礎・材料・共通部門誌) Vol.137 No.5 (2017) 特集:革新的な光応用技術

本誌掲載ページ: 291-297 p

原稿種別: 論文/日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/137/5/137_291/_article/-char/ja/

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