X線光電子分光法によるAu/ポリプロピレン界面のバンドアラインメントの解明

カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門

発行日: 2022/05/01

タイトル(英語): XPS Study of Band Alignment at Au/Polypropylene Interface

著者名: 好永　るり佳（東京大学 工学部電気電子工学科），鈴木　遥登（東京大学 工学部電気電子工学科），嶋川　肇（東京大学 工学部電気電子工学科），岡野　諒（東京大学 工学部電気電子工学科），小林　正起（東京大学 工学部電気電子工学科），熊田　亜紀子（東京大学 工学部電気電子工学科），佐藤　正寛（東京大学 工学部電気電子工学科）

著者名(英語): Rurika Yoshinaga (The University of Tokyo), Haruto Suzuki (The University of Tokyo), Hajime Shimakawa (The University of Tokyo), Ryo Okano (The University of Tokyo), Masaki Kobayashi (The University of Tokyo), Akiko Kumada (The University of Tokyo), Masahiro Sato (The University of Tokyo)

キーワード: XPS，ポリマー，金属，絶縁材料，バンドアラインメント，電荷注入障壁_x000D_　　XPS，polymer，metal，insulator，band alignment，charge injection barrier

要約(英語): Since charge injection from metal into dielectric leads to electrical degradation and failure of various electrical and power devices, it is essential to reveal the band alignment of the metal/dielectric interface. However, the band alignment of the metal/dielectric interface remains theoretically unexplored and has not been experimentally obtained. This paper reveals the band alignment at Au/polypropylene (PP) interface by X-ray photoemission spectroscopy (XPS) measurements. The hole injection barrier at the Au/PP interface was measured to be 3.4 eV.

本誌: 電気学会論文誌A（基礎・材料・共通部門誌） Vol.142 No.5 （2022） 特集：量子コンピュータ周辺回路としての低温デジタル回路

本誌掲載ページ: 229-230 p

原稿種別: 研究開発レター／日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/142/5/142_229/_article/-char/ja/