空洞共振器を用いた誘電体薄膜のミリ波帯における誘電特性測定

カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門

発行日: 2011/07/01

タイトル(英語): Measurements of Complex Permittivity for Dielectric Film at Millimeter Wave Frequencies by a Cavity Resonator

著者名: 吉川　博道（京セラ（株）総合研究所），中山　明（京セラ（株）総合研究所）

著者名(英語): Hiromichi Yoshikawa (R&D Center, Kyocera Corporation), Akira Nakayama (R&D Center, Kyocera Corporation)

キーワード: ミリ波，測定方法，空洞共振器，複素誘電率，誘電体薄膜　　Millimeter wave，Measurement method，Cavity resonator，Complex permittivity，Dielectric film

要約(英語): A novel cavity resonator method was proposed for measuring the complex permittivity of dielectric plate and film in the millimeter-wave region. In this method, the dielectric plate with film was loaded at the end of the cavity resonator. The measurement principle and the measurement error of the dielectric film were discussed. The complex permittivities of dielectric films were measured at 30 GHz.

本誌: 電気学会論文誌C（電子・情報・システム部門誌） Vol.131 No.7 （2011） 特集：平成22年電気学会電子・情報・システム部門大会

本誌掲載ページ: 1287-1292 p

原稿種別: 論文／日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejeiss/131/7/131_7_1287/_article/-char/ja/