誤検出確率指定とビットパターン埋込みが可能な画像電子透かし法
誤検出確率指定とビットパターン埋込みが可能な画像電子透かし法
カテゴリ: 論文誌(論文単位)
グループ名: 【C】電子・情報・システム部門
発行日: 2012/06/01
タイトル(英語): Image Watermarking Scheme for Specifying False Positive Probability and Bit-pattern Embedding
著者名: 左山 紘平(広島大学大学院工学研究科),中本 昌由(広島大学大学院工学研究院),棟安 実治(関西大学システム理工学部),大野 修一(広島大学大学院工学研究院)
著者名(英語): Kohei Sayama (Graduate School of Engineering, Hiroshima University), Masayoshi Nakamoto (Dept. of System Cybernetics, Faculty of Engineering, Hiroshima University), Mitsuji Muneyasu (Faculty of Engineering Science, Kansai University), Shuichi Ohno (Dept. of System Cybernetics, Faculty of Engineering, Hiroshima University)
キーワード: 画像電子透かし法,離散ウェーブレット変換(DWT),誤検出確率,相関検出器,ビットパターン,PSNR image watermarking,discrete wavelet transform(DWT),false positive probability,correlation-based detector,bit-pattern,PSNR
要約(英語): This paper treats a discrete wavelet transform(DWT)-based image watermarking with considering the false positive probability and bit-pattern embedding. We propose an iterative embedding algorithm of watermarking signals which are K sets pseudo-random numbers generated by a secret key. In the detection, K correlations between the watermarked DWT coefficients and watermark signals are computed by using the secret key. L correlations are made available for the judgment of the watermark presence with specified false positive probability, and the other K-L correlations are corresponding to the bit-pattern signal. In the experiment, we show the detection results with specified false positive probability and the bit-pattern recovery, and the comparison of the proposed method against JPEG compression, scaling down and cropping.
本誌: 電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌) Vol.132 No.6 (2012) 特集:データ指向型モデリング/予測/制御
本誌掲載ページ: 932-939 p
原稿種別: 論文/日本語
電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejeiss/132/6/132_932/_article/-char/ja/
受取状況を読み込めませんでした
