WebサービスによるHEMS機器相互接続テスト環境の開発

カテゴリ: 論文誌(論文単位)

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門

発行日: 2013/04/01

タイトル(英語): Development of Cloud Service for Interconnect Testing on HEMS Devices

著者名: 杉村　博（神奈川工科大学工学教育研究推進機構スマートハウス研究センター），関家　一雄（神奈川工科大学工学教育研究推進機構スマートハウス研究センター），渡部　智樹（神奈川工科大学大学院 電気電子工学専攻），一色　正男（神奈川工科大学工学教育研究推進機構スマートハウス研究センター／神奈川工科大学大学院 電気電子工学専攻）

著者名(英語): Hiroshi Sugimura (Smart House Research Center, Kanagawa Institute of Technology), Kazuo Sekiya (Smart House Research Center, Kanagawa Institute of Technology), Tomoki Watanabe (Department of Electrical and Electronic Engineering, Graduate School of Engineering, Kanagawa Institute of Technology), Masao Isshiki (Smart House Research Center, Kanagawa Institute of Technology/Department of Electrical and Electronic Engineering, Graduate School of Engineering, Kanagawa Institute of Technology)

キーワード: HEMS，テストベッド，Webサービス，エコーネットライト　　HEMS，Testbed，Web service，ECHONET Lite

要約(英語): This paper develops a web service for interconnect testing on HEMS devices. In order to improve ecology and usefulness of consumer devices, the development acceleration of the HEMS devices is important. However, an implementation of communications protocol is large cost of development. Especially, interconnect testing effects them. We thus develop an emulator provided by web service for the testing. By using set of scenarios which provide behaviors of ECHONET Lite node for tests, the system has a capability to correspond to the specification change.

本誌: 電気学会論文誌C（電子・情報・システム部門誌） Vol.133 No.4 （2013） 特集：新たなサービス社会に貢献する情報・システム技術

本誌掲載ページ: 818-819 p

原稿種別: 研究開発レター／日本語

電子版へのリンク: https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejeiss/133/4/133_818/_article/-char/ja/