固体絶縁スイッチギヤの長期信頼性検証

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-198

グループ名: 【全国大会】平成21年電気学会全国大会論文集

発行日: 2009/03/15

タイトル(英語): Verfication of Long-term Reliability of Solid Insulated Switchgear

著者名: 宮内 康寿(東芝),多賀谷 治(東芝),久保田 信孝(東芝),佐藤純一 (東芝),阪口 修(東芝)

著者名(英語): Yasuhisa Miyauchi(TOSHIBA Corporation),Osamu Tagaya(TOSHIBA Corporation),Kubota Nobutaka(TOSHIBA Corporation),Jyunichi Sato(TOSHIBA Corporation),Osamu Sakaguchi(TOSHIBA Corporation)

キーワード: 固体絶縁スイッチギヤ|長期課電|部分放電|信頼性

要約(日本語): 固体絶縁スイッチギヤ(SIS)の長期信頼性を把握する目的で、2002年から長期課電による絶縁信頼性の検証を継続実施中である。今回、2008年12月現在までの検証結果について報告する。検証結果から、課電劣化試験開始から約4年経過したが、異常は認められず、また部分放電特性にも変化は見られなかった。これよりSISは十分な絶縁性能を有することが実証され、信頼性のある製品であることがわかった。今後も継続して調査していく予定である。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 186 Kバイト