インターコネクタ接続不良による太陽電池セル発熱分析

カテゴリ: 全国大会

論文No: 40-41

グループ名: 【全国大会】平成31年電気学会全国大会論文集

発行日: 2019/03/01

タイトル(英語): Analysis of temperature rise in PV cell due to poor bonding with the interconnector

著者名: 加藤 亮輔(筑波大学),岡島 敬一(筑波大学),加藤 和彦(産業技術総合研究所),宮本 裕介(関電工)

著者名(英語): Ryosuke Kato,Keiichi Okajima,Kazuhiko Kato,Yusuke Miyamoto

キーワード: 太陽光発電,ホットスポット,回路シミュレーション,有限要素法

要約(日本語): PVモジュールのバイパス回路が正常に動作する場合における、インターコネクタ接続不良を起因としたセル焼損を対象に、電気回路シミュレーション及び伝熱解析シミュレーションをもとにしたジュール発熱の検討を行った。電気回路シミュレーションでは、インターコネクタと裏面電極間の接続部抵抗における発熱を算出し、正常ケースに対して接続不良が生じたケースでの発熱増加を確認した。伝熱解析シミュレーションでは、ジュール発熱によるセル温度上昇ならびにセル内温度分布を確認した。インターコネクタの接続不良は微小な領域で発生するため、今回算出された発熱量がセル焼損のリスクに繋がることは十分に考えられる。

本誌掲載ページ: 7-028 p

原稿種別: 日本語